深圳华通微生产的定制LGA80pin-2.0mm(20x20)翻盖老化测试，芯片hast老炼夹具socket，适用于LGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用。
产品主要参数如下
适用引脚间距：2.0mm
适用芯片尺寸：20*20mm
芯片测试座寿命：10万次
芯片测试电流：1A
芯片测试频率：1000Mhz
芯片测试温度：-55~165℃
芯片测试座结构：翻盖式
芯片测试座材料：PPS
深圳华通微生产的定制LGA80pin-2.0mm(20x20)翻盖老化测试，芯片hast老炼夹具socket，适用于LGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用。
深圳华通微生产的定制LGA80pin-2.0mm(20x20)翻盖老化测试，芯片hast老炼夹具socket，适用于LGA封装的芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款为烧录使用。
产品主要参数如下
适用引脚间距：2.0mm
适用芯片尺寸：20*20mm
芯片测试座寿命：10万次
芯片测试电流：1A
芯片测试频率：1000Mhz
芯片测试温度：-55~165℃
芯片测试座结构：翻盖式
芯片测试座材料：PPS
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